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JMPを使えば怖くない寿命データの分析と製品信頼性の評価_廣野 元久_遠藤 幸一(2020-JA-45MT-07)

レベル:中級

 

【発表者】

廣野 元久, HC事業本部 事業推進センター付, 株式会社リコー

遠藤 幸一, ディスクリート半導体信頼性技術担当, ディスクリート半導体信頼性技術部, 東芝デバイス&ストレージ株式会社

 

【発表概要】

おそらくJMPは信頼性データ分析のソフトウェアの中では最も強力な能力と体系的なアプリケーションを持っているソフトウェアである。本報告では,JMPの信頼性/生存時間分析のプラットフォームを使って、一変量の分布、二変量の関係、予測、モデル化と許される時間の中で寿命データの分析方法を体系的に紹介する。特にモデル化では再生定理や信頼性試験で使われる方法を実例から飛躍しない程度の仮想的な例を通じて信頼性活動とデータ分析プロセスを紹介する予定である。

 

【発表者プロフィール】

廣野 元久

1984年、株式会社リコー入社。以来、社内の品質マネジメント・信頼性管理の業務、統計学の啓発普及に従事。品質本部QM推進室室長、SF事業センター所長を経て、現職。東京理科大学工学部(1997-1998)、慶應義塾大学総合政策学部 非常勤講師(2000-2004)。主な専門分野は統計的品質管理、信頼性工学。主著に「グラフィカルモデリングの実際」、「JMPによる多変量データの活用術」、「アンスコム的な数値例で学ぶ統計的計算方法23講」、「JMPによる技術者のための多変量解析」、「目からウロコの多変量解析」などがある。

 

遠藤 幸一

1987年 株式会社東芝に入社。パワーIC(電源用IC、モーター用500V耐圧ドライバIC等)の製品開発・プロセス開発を経て、現在は故障解析技術開発に従事。博士(情報科学) 大阪大学。

 

※配布資料はございません。