cancel
Showing results for 
Show  only  | Search instead for 
Did you mean: 
Check out the JMP® Marketplace featured Capability Explorer add-in
Choose Language Hide Translation Bar
提升產品良率的關鍵:生產良率計算及JMP規格設定3技巧

當客戶給定規格,工廠試產產品時或是研發人員設計產品,常使用公式去計算良率,當產品特性或是工廠機器監測參數很多,不僅費時費力要確認不良品外,規格每次的調整都會牽扯到公式的修改,只要有相關專案都需要大費周章地把前置作業重複地做一次。所以這次主題針對良率的計算以及相關規格的設置,包含如何針對後續的規格做出適當的修改進行說明。

 

如何在JMP設定良率規格?

首先談到良率,第一個一定要有的就是規格,本篇一開始先介紹如何設定規格,JMP規格設定可以針對單一參數或是多個參數設定,設定過後可以添加成column property,底下就兩種情形跟大家說明:

 

情況一、單一參數設定規格
如圖1與圖2所示,在任一參數欄位右鍵點選Column Properties下的Spec Limits,就可以加入規格並且在圖形上顯示。
1

Michelle_Wu_0-1677735604107.png

 

圖2

Michelle_Wu_1-1677735604112.png

 

 

 

情況二、多參數設定規格

Analyze>Quality and Process>Manage Spec Limits(3),可以一次將多個參數設定規格並且加入Column Properties(Save to Column Properties),也可以將規格另存成資料表方便未來讀取(4),除了手動輸入外也可以依次複製多個參數的上限或下限貼上。

 

3

Michelle_Wu_2-1677735604120.png

 

圖4

Michelle_Wu_3-1677735604124.png

如何計算良率? 輕鬆設置不良率匯總表

第二個部分要跟大家說明的是如何計算良率,使用Analyze>Distribution,如果已經設定好規格,在Nonconformance(5)可以自動顯示出不良率為多少以及估計的不良率期望值為多少,不過一般情況下,如何將眾多參數的不良率結果彙整起來,也是使用者常遇到的問題,這裡JMP提供了一個有用的小技巧,在Nonconformance的表格上點選右鍵,選擇Make Combined Data Table(6),就可以直接生成不良率的匯總表(7)

 

5

Michelle_Wu_4-1677735604130.png

 

圖6

Michelle_Wu_5-1677735604134.png

 

圖7

Michelle_Wu_6-1677735604139.png

 

如果遇到外觀判斷Pass/Fail名目型資料型態(如何計算不良率呢?這裡介紹另外一個JMP功能,Analyze>Tabulate(9),將相關的變量拖曳到相關欄位,並且搭配紅色下拉式選單下Make Into Data Table(10),生成不良率及良率統計表(11)

圖8

Michelle_Wu_7-1677735604143.png

 

圖9

Michelle_Wu_8-1677735604145.png


圖10

Michelle_Wu_9-1677735604146.png

 

圖11

Michelle_Wu_10-1677735604148.png

 

Michelle_Wu_11-1677735604163.png

判斷調整規格對不良率的影響

第3個部分要來談根據現有資料分布,調整規格界線或是了解規格調整對不良率影響,第一步先要確認資料分布,如果是連續型變量,在該參數下點選紅色下拉式選單的Continuous Fit,接著選Fit All,讓JMP自動擬合最適合的分布(12),如果資料屬於常態分配,可以選擇Interactive Capability Plot(13)動態性調整上下限,了解常態分佈下期望不良率的變化(14)

圖12

Michelle_Wu_12-1677735604166.png

 

圖13

Michelle_Wu_13-1677735604167.png


14

Michelle_Wu_14-1677735604172.png


此外在擬合常態分配的下拉式選單裡,可以選擇Process Capability (15),可根據資料分布輸入上下分界點的機率值或是根據標準差計算規格(16),這裡需注意某些分布無法使用,如Cauchy, Student t 或是離散型的機率分布。

圖15

Michelle_Wu_15-1677735604174.png

 

圖16-1 根據分位數機率計算規格

Michelle_Wu_25-1677736042195.png

 

(圖16-2)根據標準差倍數計算規格

Michelle_Wu_26-1677736068611.png

規格計算出來後,會顯示相關的製程能力,直方圖以及不良率的資料(圖17),並且可將調整後的規格儲存成Column Property(圖18)

 

圖17

Michelle_Wu_18-1677735604180.png

Michelle_Wu_19-1677735604182.png

 

圖18

Michelle_Wu_20-1677735604183.png

 

以上為建立規格以及調整規格確認不良率的操作過程,使用者多使用到前半段規格設定功能,而後續想要根據收集的樣本及其分布進一步調整規格,同時了解不良率變化較少使用者了解,藉這一篇文章說明,讓有需要的使用者能夠更節省時間且有效率的控管及設計產品。歡迎試用JMP30,協助您快速完成您的日常分析工作。

 

 

推薦閱讀:

Michelle_Wu_21-1677735604188.png

Last Modified: Mar 2, 2023 12:56 AM