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JMPによる信頼性データの分析の実際_廣野 元久_遠藤 幸一(2020-JA-45MT-06)

レベル:中級

 

【発表者】

廣野 元久, HC事業本部 事業推進センター付, 株式会社リコー

遠藤 幸一, ディスクリート半導体信頼性技術担当, ディスクリート半導体信頼性技術部, 東芝デバイス&ストレージ株式会社

 

【発表概要】

信頼性工学において使われるワイブル確率紙を用いるワイブル解析の話を中心に、信頼性データ分析のケーススタディを紹介する。信頼性データは処理によっては誤った解釈をしてしまう場合が少なくない。本発表では昨年に引き続きJMPを使ったデータ分析の正しい使い方のツボを既存のやり方と比較しながら、デモを交えて紹介する。

 

【発表者プロフィール】

廣野 元久

1984年、株式会社リコー入社。以来、社内の品質マネジメント・信頼性管理の業務、統計学の啓発普及に従事。品質本部QM推進室室長、SF事業センター所長を経て、現職。東京理科大学工学部(1997-1998)、慶應義塾大学総合政策学部 非常勤講師(2000-2004)。主な専門分野は統計的品質管理、信頼性工学。主著に「グラフィカルモデリングの実際」、「JMPによる多変量データの活用術」、「アンスコム的な数値例で学ぶ統計的計算方法23講」、「JMPによる技術者のための多変量解析」、「目からウロコの多変量解析」などがある。

 

遠藤 幸一

1987年 株式会社東芝に入社。パワーIC(電源用IC、モーター用500V耐圧ドライバIC等)の製品開発・プロセス開発を経て、現在は故障解析技術開発に従事。博士(情報科学) 大阪大学。

 

※配布資料はございません。