レベル：中級
【発表者】
Applied Materials, Supplier Engineer ,Yu Tao
【発表概要】
In situations of IP sensitivity, the ability to provide guidance to supplier for continued process improvement is challenged. This presentation introduces a methodology to address this. It uses retrospective analysis to separate the special cause from common cause, leading to establishment of achievable process target with improved controls and performance capability. JMP tools like ANOVA, each pair t-test, 3 way control chart, and goal plot are fundamental instruments to this methodology.
知的財産に敏感な状況下では、サプライヤーに継続的なプロセス改善のためのガイダンスを提供する能力が問われます。本発表では、この問題に対処するための方法論を紹介します。この手法では、事後的な分析を用いて、特殊原因と一般原因を分離し、改善されたコントロールとパフォーマンス能力を持つ達成可能なプロセス目標を確立します。JMPのANOVA、各対のt検定、3元管理図、ゴールプロットなどは、この方法論の基本なツールです。
【発表者プロフィール】
From Santa Clara, California, Tao Yu leads global supplier engineering effort on coating and adhesive at Applied Materials. Tao holds a PhD in Polymer Materials Science. He has worked in the R&D role with various industries, where he practiced JMP learnings into product design and process optimization. Tao’s recent interest in quality engineering motivated him to seek greater utilization of JMP tools and statistical guidance. Tao is STIPS certified, now working on black belt certification.
カリフォルニア州サンタクララ出身。アプライド マテリアルズでコーティングと接着剤のグローバルサプライヤーエンジニアリングを統括。高分子材料科学の博士号を取得。さまざまな業界で研究開発業務に携わり、JMPの知見を製品設計やプロセスの最適化に活かしてきた。近年、品質工学に興味を持ち、JMPのツールや統計ガイダンスをより活用することを目指す。STIPSを修了し、現在、Sixsigmaのブラックベルトの認定を取得中。