レベル：中級

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実験計画の過程で、多くの潜在的な重要な要因が特定されることがよくあります。これらの重要な要素をできるだけ多く調査することが理想的です。多数の要因を調査するために必要な実行回数を最小限に抑えるために使用できるスクリーニング設計には、さまざまな種類があります。 スクリーニング設計の主な目標は、さらに調査する必要のあるアクティブな要因を見つけることです。信号をノイズから分離するのは難しい場合があるため、これらの設計を分析する方法を選択することは重要です。 この講演では、ChrisGotwaltとPhilRamseyが開発した自動検証手法を使用して、さまざまなスクリーニング設計を分析する方法について説明します。焦点は、グループ直交過飽和設計（GO-SSD）と最終的なスクリーニング設計（DSD）になります。プレゼンテーションでは、これらのスクリーニング設計を分析するための他の手法と比較した自動検証手法の結果を示します。

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