レベル：初級

製造業では、工程の管理など、さまざまな場面で測定が行われます。例えば、測定が精確に行われていないと、測定値のばらつきが、測定システムに起因するものなのか、工程に起因しているものなのか、理解するのが難しくなってしまいます。では、どのような方法で測定システムの測定精度を調べればよいでしょうか。このようなときに役立つのが、測定システム分析（MSA: Measurement System Analysis）です。測定システム分析には、偏り、安定性、直線性の評価などがありますが、本発表では、測定システムのばらつきを分析するGauge R&R分析やEMP分析について、主にご紹介します。JMPを使うと、測定システム分析実験の計画から、分析結果の出力まで行えます。また、JMP 17で追加された測定システム分析関連のいくつかの新機能、変更点などについてもご紹介する予定です。

2010年にSAS Institute Japan株式会社に入社。現在は、主に化学業界のお客様を担当しており、JMPのセミナーやJMPのデモンストレーション等、JMP製品のプリセールス業務を担当しています。