請問一下,以這個資料來看,已輸入了各製程管控欄位的規格,如何統計出同時符合所有規格的wafer數量呢? 對製程而言這就是試整體良率的部分。
我目前使用的方法是用data filter 再輸入一次各管控欄位規格,篩選出合乎規格的資料再去做row的總和。有無更好的方法呢 謝謝回答。
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