EMEA Mastering JMP: Découverte du Plan d'essai accéléré de durée de vie pour la fiabilité des produits

Découverte du Plan d'essai accéléré de durée de vie pour la fiabilité des produits

Les tests accélérés de durée de vie (ALT) sont nécessaires pour l'évaluation de la fiabilité des produits dont les pièces doivent fonctionner correctement pendant de longues périodes.  En raison des faibles taux de défaillance dans les conditions d'utilisation, les pièces doivent être testées à des niveaux de contrainte élevés afin de générer des défaillances dans un laps de temps raisonnable. Parmi les appareils nécessitant de telles analyses de fiabilité, on trouve les appareils médicaux, les circuits semi-conducteurs, les équipements aéronautiques et bien d'autres encore. Découvrez comment analyser les données de tests accélérés afin de prévoir les durées de vie en fonction des conditions d'utilisation dans le cadre de tests à contraintes constantes simples et multiples, ainsi que de tests à contraintes progressives.