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JMPを用いた測定精度評価のための実験計画と解析

日本ゴア株式会社 Statistician 河口 雅彦

 

製品の品質を高い信頼度で保証するためには、測定器の精度を十分に把握しておく必要がある。測定精度評価といえば、Gauge R&Rが代表的な手法であるが、弊社ではDonald J. Wheeler博士が提唱しているEMP法を標準的な方法として使用している。

 

JMPでは、version 10からMSAプラットフォームの中でEMP法をサポートしており、Gauge R&R法とともに基本的な解析を行うことができる。しかし、これらの代表的な指標の中には、測定するサンプルに大きく影響されるものがあり、結果の解釈は慎重にしなければならない。また測定精度評価の実験計画は、総当たり実験の繰り返しがベースになる。DOEプラットフォームのカスタム計画から計画を立案することができるが手順は少し複雑である。これらの問題を解決するために、弊社ではEMPの計画と解析をエンジニアが簡単に行うためのアドインを開発して使用している。

 

本発表では、①EMP法、Gauge R&R法による測定精度評価の概要、②JMPを用いた測定精度評価の実験計画と結果の解釈、③それらをエンジニアが簡単に行うためのアドイン、の3点について事例を交えて説明する。

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