在半导体行业,产品要求越来越来高,工艺和设备变得越来越复杂。工艺参数的控制也更严了,对材料的要求也相应地提高了。而生产过程中所遇到地问题越来越复杂,并不是单一因素导致,通常由多个潜在因素相关。本次演讲以BGA的一个产品在Mold 工序有wire sway issue 研究为例,应用JMP工具对数据分析找出根本原因,并通过model comparison模型比较找到最适合的model进行优化找到最优值,最终解决了问题。

Published on ‎05-20-2024 01:30 PM by Community Manager Community Manager | Updated on ‎05-20-2024 01:40 PM

在半导体行业,产品要求越来越来高,工艺和设备变得越来越复杂。工艺参数的控制也更严了,对材料的要求也相应地提高了。而生产过程中所遇到地问题越来越复杂,并不是单一因素导致,通常由多个潜在因素相关。本次演讲以BGA的一个产品在Mold 工序有wire sway issue 研究为例,应用JMP工具对数据分析找出根本原因,并通过model comparison模型比较找到最适合的model进行优化找到最优值,最终解决了问题。



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