製造業向け： JMPを用いて大量の測定データから重要な要因をスクリーニングする方法　オンデマンド（日本語）

2025年6月26日に実施したWebセミナー「製造業向け： JMPを用いて大量の測定データから重要な要因をスクリーニングする方法　～応答、説明変数、工程を対象に～」のオンデマンド版です。

そのときのセミナーの内容をコンパクトにし、4つの章にまとめたものです。

統計解析における「スクリーニング」とは、多くの変数の中から、有用なものをフィルタリングするように選別するプロセスのことを示します。本セミナーでは、JMPのスクリーニング機能として搭載されている「応答のスクリーニング」、「説明変数のスクリーニング」、「工程のスクリーニング」について、実例とともに機能の特徴を示します。

※セミナー実施時点の最新バージョン「JMP 18.2.1」を用いています。

※オンデマンド用の配布資料を本ページからダウンロードできます。

1. 多くの変数から重要な変数をスクリーニングする（4分30秒）

• 本セミナーのイントロダクション
• 統計モデルにおける変数のスクリーニング
• スクリーニング」に関するJMPのプラットフォーム

2. 応答のスクリーニング

2-1 .スクリーニングを実施する前にデータの考察を（11分18秒）

2-2. 応答のスクリーニングの実施（14分21秒）

3. 説明変数のスクリーニング（8分53秒）

4. 工程のスクリーニング（12分46秒）